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一、參數(shù)設(shè)置（一）測(cè)試頻率測(cè)試頻率是影響介電性能測(cè)量結(jié)果的重要參數(shù)。ZJD系列試驗(yàn)儀的測(cè)試頻率范圍通常為50Hz-1MHz，部分設(shè)備可擴(kuò)展至更高頻率。不同材料在不同頻率下的介電性能表現(xiàn)出顯著差異，因此需要根據(jù)材料的應(yīng)用場(chǎng)景和研究目的選擇合適...

一、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)ZST系列體積表面電阻率試驗(yàn)機(jī)的設(shè)計(jì)和測(cè)試依據(jù)多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)。國(guó)內(nèi)主要符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1410-2006/IEC60093:1980《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了測(cè)試方法、電極系統(tǒng)、測(cè)試條件等關(guān)鍵...

介電強(qiáng)度試驗(yàn)儀的十一種升壓方式介紹：1.線(xiàn)性連續(xù)升壓-原理：電壓以恒定速率（如500V/s或1kV/s）線(xiàn)性增加，直至試樣擊穿。-特點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，適用于常規(guī)質(zhì)量檢驗(yàn)。但無(wú)法觀(guān)察材料在特定電壓下的耐受特性。-應(yīng)用：常用于均質(zhì)材料（...

影響擊穿電壓的因素介質(zhì)本征特性、微觀(guān)缺陷作用和外部條件（一）介質(zhì)本征特性原子電離能級(jí)：當(dāng)外加電場(chǎng)提供的能量達(dá)到介質(zhì)原子最外層電子的勢(shì)阱深度時(shí)，將引發(fā)電子雪崩效應(yīng)。例如，SiO?的最外層電子勢(shì)阱深度為8.4eV。晶體結(jié)構(gòu)各向異性：某些材料的晶...

工作原理與儀器用途（一）儀器定義與用途ZJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀是一種專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量材料介電性能的高精度儀器，能夠精確測(cè)定絕緣材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗因數(shù)（tanδ）。這些參數(shù)對(duì)于評(píng)估材料在電場(chǎng)作用下的極化特性、能量損耗情況等至關(guān)...

電氣電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)選型注意事項(xiàng)機(jī)選擇標(biāo)準(zhǔn)：一、明確測(cè)試需求與標(biāo)準(zhǔn)1.材料類(lèi)型與測(cè)試范圍橡膠塑料種類(lèi)繁多，不同材料的擊穿電壓差異較大。需明確待測(cè)材料的厚度范圍（如0.1~10mm）、形狀（片狀、管狀或異形件）及最高耐壓值（通常橡膠塑料的擊...